简介：X线头影测量是对头部进行投影测量，用于检查颅面生长情况和畸形的重...[展开]
简介：X线头影测量是对头部进行投影测量，用于检查颅面生长情况和畸形的重要手段。[收起]
X线头影测量用于检查颅面生长情况和畸形的重要手段。X线头影测量是研究颅面生长发育的重要手段，一方面可通过对各年龄阶段个体作X线头影测量分析，从横向研究颅面生长发育，同时也可用于对个体不同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向研究。
1进入X线检查室，2端坐在检查检查仪器前，3脸部侧面正对X线仪，进行拍片。
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